如何看ic的时序操作,cl时序怎么看

自动化测试|如何选择半导体测试系统——你不得不知道的事转载2020-11-0308:58:55虹科电子科技码龄3年关注半导体产品半导体产品，又被称为集成电路或者IC，英文名是SemiconductorDevice。在半导体测试中常用DUT(DeviceUnderTest)来表示需要检测的IC单元，半导体测试的主要目的，是利用测试设备执行设定好的测试工作，然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范，而这些参数值会记录在规格表(DeviceSpecifications)中。

例如直流测试(DCTest)、功能测试(FunctionTest)、交流测试(ACTest)等。直流测试，是验证IC的电压与电流值功能测试，是验证其逻辑功能是否正确交流测试则是验证其是否在正确的时间点上进行设定的功能。在这个过程中通常需要测试程序来控制测试系统的硬件，并对每一次的测试结果，作出判断Pass或Fail。

上图是数字电路的理想波形，忽略了高、低电平转换所需的建立时间，分析时只要抓住时钟有效时刻，对照输入波形与驱动方程即可；下图是实际工作的时序图，斜坡表示信号的建立时间，此时逻辑状态是不稳定的，各个信号的时间配合要避开建立时间段。如CPU把数据写入存储器的时序是：地址信号最早建立、输出数据、写入脉冲，一个嵌套着一个。下图是A/D芯片0809的转换时序，也是地址先建立（C、B、A），然后选通（START）、等待转换完成（OE）、数据输出（D7~D0）。

内存条时序看的步骤如下：1、首先假如说现在有两条内存条，这两条内存条的容量和频率都相同，就可以看内存条的时序了，这个时候就可以说时序越低，就越好，就好比，一条CL14,一条CL16，那么肯定就是CL14好。2、其次一般需要给自己电脑加内存条的时候需要先看看自己的电脑原装是DDR几，比如说DDR4比DDR3好很多。3、最后例如8G加8这里显示的是内存8g的容量。

内存时序即描述同步动态随机存取存储器（SDRAM）性能的四个参数：CL、TRCD、TRP和TRAS，单位为时钟周期。它们通常被写为四个用破折号分隔开的数字，列如上图的16181836。第四个参数经常被省略，而有时还会加入第五个参数：Commandrate（命令速率），通常为2T或1T，也写作2N、1N，这些参数指定了影响随机存储存储器速度的延迟时间，较低的数字通常意味着更快的性能，所以也就是越小越好啦，通常以纳秒（ns）为单位。

1，第一张图是错的（计数指令），你可以去问你们老师，I0.0没有，Q4.0一定没有，I0.0有Q4.0不一定有，因为Q4.0是输出指令，图中CU就是I0.0。（软件仿真无法得到结果，你可以去试一试）2，第二张图，I0.0上升沿是启动定时器，该定时器没有带记忆功能，就是I0.0有15S才有Q4.0输出，I0.0没有有15S下次有信号时又从头开始记。